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TM106-LD 薄膜測(cè)厚/層積速率顯示儀

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 合肥科晶材料技術(shù)有限公司
  • 品牌
  • 型號(hào) TM106-LD
  • 所在地 合肥市
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間 2017/1/9 11:45:21
  • 訪問(wèn)次數(shù) 1059

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TM106-LD薄膜測(cè)厚儀/層積速率顯示儀的工作原理,是依據(jù)所測(cè)樣品薄膜厚度的改變而導(dǎo)致石英晶片振蕩頻率改變。將所蒸發(fā)材料的密度輸入到測(cè)試系統(tǒng)中,便可測(cè)量層積薄膜的厚度。此款測(cè)厚儀的分辨率為0.037 Å。

詳細(xì)信息 在線詢價(jià)

 

 TM106-LD薄膜測(cè)厚儀/層積速率顯示儀的工作原理,是依據(jù)所測(cè)樣品薄膜厚度的改變而導(dǎo)致石英晶片振蕩頻率改變。將所蒸發(fā)材料的密度輸入到測(cè)試系統(tǒng)中,便可測(cè)量層積薄膜的厚度。此款測(cè)厚儀的分辨率為0.037 Å。

 

技術(shù)參數(shù)

功率

400 mA, 5V (dc)

測(cè)試頻率范圍

6.0 - 5.0 MHz

頻率分辨率

+/- 0.03 Hz @ 6 MHz

測(cè)量區(qū)間

0.10s

參考頻率穩(wěn)定性

+/- 2 ppm

厚度和速率分辨率

+/- 0.037Å  基頻=6MHz

厚度顯示分辨率

1 Å  

尺寸

11.4 x 7.6 x 2.5 cm

重量

57g

操作系統(tǒng)

Windows 8, Windows 7, Windows Vista, Windows XP, 或Windows 2000

晶體探針架

  • 探針長(zhǎng)度:120mm
  • 探針直徑:10mm
  • 安裝有水冷夾層,保持探針的溫度低于150℃

軟件

包括STM-2軟件
 

可選石英晶體

  • 含金石英晶體:用于測(cè)試金屬薄膜厚度
  • 合金石英晶體:用于測(cè)量非金屬薄膜厚度

安裝

質(zhì)保期

一年質(zhì)保期,終身維護(hù)

應(yīng)用

  • 選擇合適的石英振蕩晶體,分為含金石英晶體和合金石英晶體
  • 含金石英晶體,適用于大多種材料測(cè)試
  • 合金石英晶體建議用于測(cè)試光學(xué)薄膜,介電薄膜或半導(dǎo)體膜等


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