高性價比CCD陣列光譜儀，像元數(shù)2048.內(nèi)建16位A/D轉換器，USB2.0數(shù)據(jù)接口，數(shù)據(jù)讀出速度可達2M。光譜范圍200-1050nm，zui小分辨率達0.5nm。

　　Quest X光譜儀的介紹

　　QuestTM X 是B&W Tek推出的高性價CCD光譜儀。它采用高性能的線性CCD陣列檢測器，內(nèi)設溫度補償，光譜范圍寬達200-1050nm，采用不同的狹縫，光譜分辨率可在0.5-3.0nm之間選擇。QuestTM X在紫外/可見/近紅外端均有著優(yōu)異的表現(xiàn)，zui寬達200-1050nm的光譜范圍，是紫外，可見和短波近紅外光譜應用的理想選擇。

　　QuestTM X內(nèi)設溫度補償，使熱漂移降低至～15計數(shù)值/℃, 從而有效降低了基線漂移，穩(wěn)定了動態(tài)范圍。

　　QuestTM X讀出速度高于2.0兆赫茲，像元數(shù)2048，內(nèi)建16位數(shù)字轉換，標配采用USB2.0高速數(shù)據(jù)傳輸，也可做成增強的串口RS232傳輸，包含外觸發(fā)和同步功能，便于系統(tǒng)集成和開發(fā)。QuestTM X系列靈活的配置，將滿足更多光譜應用需求和OEM客戶的特殊要求。

　　Quest X光譜儀的特點：

　　?  熱漂移～15計數(shù)值/℃

　　?  紫外-近紅外波段（200nm - 1050nm）

　　?  0.5nm 光譜分辨率

　　?  16位數(shù)字分辨率

　　?  1ms zui小積分時間

　　?  2.0MHz讀出速度

　　?  即插即用USB2.0接口

　　Quest X光譜儀的應用:

　　?  紫外可見近紅外 光譜分析/輻射分光分析/分光光度分析及應用

　　?  波長檢測

　　?  吸光度測量

　　?  反射率測量

　　Quest X光譜儀的技術參數(shù)：