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USPM-RU-W 近紅外顯微分光測定儀

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USPM-RU-W近紅外顯微分光測定儀可以高速&高精細地進行可視光區(qū)域至近紅外區(qū)域的大范圍波長的分光測定。由于其可以很容易地測定通常的分光光度計所不能測定的細微區(qū)域、曲面的反射率，因此適用于光學元件與微小的電子部件等產品。

詳細信息 在線詢價

產品簡介：

從380nm~1050nm的可視光至近紅外實現(xiàn)大范圍波長區(qū)域中的分光測定

奧林巴斯的近紅外顯微分光測定儀USPM-RU-W可以高速&高精細地進行可視光區(qū)域至近紅外區(qū)域的大范圍波長的分光測定。由于其可以很容易地測定通常的分光光度計所不能測定的細微區(qū)域、曲面的反射率，因此zui適用于光學元件與微小的電子部件等產品。

技術參數(shù)：

 型號：   USPM-RU-W
 反射率測定透過率測定*145度反射測定*1
名稱近紅外顯微分光測定儀用
透過測定選配件		用
45度反射測定選配件
型號USPM-RU-W
測定波長380～1050nm
測定方法對參照樣品的比較測定對100%基準的透過率測定對參照樣品的比較測定
測定范圍參照下列對物鏡的規(guī)格約ø2.0mm
測定
再現(xiàn)性（3σ）*2		反射率測定使用10×、20×物鏡時±0.02[%]以下（430-1010nm）、
±0.2[%]以下（上述以外）		±1.25[%]以下（430-1010nm）、
±5.0[%]以下（左側記載除外）
使用40×物鏡時±0.05[%]以下（430-950nm）、
±0.5[%]以下（上述以外）		 
厚膜測定±1%　-
波長顯示分解能1nm
照明附件鹵素燈光源　 JC12V 55W（平均壽命700h）
位移受臺承載面尺寸：200(W)×200(D)mm　　
承重：3 kg
工作范圍：(XY) ±40mm, (Z)125mm
傾斜受臺－承載面尺寸：　140(W)×140(D)mm
承重：　1 kg
工作范圍：(XT) ±1°, (YT) ±1°
裝置質量主體：約26 kg（PC除外）主體：約31 kg（PC除外）*3
控制電源箱：約6.7kg
裝置尺寸主體部位：360(W)×446(D)×606(H)mm主體部位：360(W)×631(D)×606(H)mm
控制電源箱：250(W)×270(D)×125(H)mm
電源規(guī)格輸入規(guī)格：100-240V (110VA) 50/60Hz
使用環(huán)境水平無振動的場所
溫度：15～30℃
濕度：15～60％RH（無結露）

*1 選件組件 　

*2 本社測定條件下的測定 　

*3 裝配透過率測定套件與45度反射測定套件的總重量為33kg。

對物鏡
型號USPM-OBL10USPM-OBL20USPM-OBL40
倍率10x20x40x
NA0.120.240.24
測定范圍*470μm34μm17μm
工作距離14.3mm4.2mm2.2mm
樣品的曲率半徑±5mm～±1mm～±1mm～

*4 點徑實的測定功能

使用一臺即可進行反射率、膜厚、物體顏色、透過率、入射角45度反射率的各種分光測定。

測定反射率

測定以物鏡聚光的Φ17~70μm的微小點的反射率。

奧林巴斯（中國）有限公司

|

手機：15857110087

聯(lián)系人：市場部

電話：400-969-0456

傳真：021-51706236

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