P-170 Stylus Profiler

  P-170是cassette-to-cassette探針式輪廓儀，可提供幾納米至一毫米的臺階高度測量功能，適用于生產(chǎn)環(huán)境。該系統(tǒng)可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測量，其掃描可達(dá)200mm而無需圖像拼接。 P-170具有的圖案識別算法、增強(qiáng)的光學(xué)系統(tǒng)和的平臺，這保證了性能的穩(wěn)定和系統(tǒng)間配方的無縫移植- 這是24x7生產(chǎn)環(huán)境的關(guān)鍵要求。

產(chǎn)品描述

  P-170是cassette-to-cassette探針式輪廓儀，將行業(yè)的P-17臺式系統(tǒng)的測量性能和經(jīng)過生產(chǎn)驗證的HRP®-260的機(jī)械傳送臂相結(jié)合。 這樣的組合為機(jī)械傳送臂系統(tǒng)提供了極低的擁有成本，適用于半導(dǎo)體，化合物半導(dǎo)體和相關(guān)行業(yè)。 P-170可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測量，其掃描可達(dá)200mm而無需圖像拼接。

   該系統(tǒng)結(jié)合了UltraLite®傳感器、恒力控制和超平掃描平臺，因而具備出色的測量穩(wěn)定性。通過點擊式平臺控制、頂視和側(cè)視光學(xué)系統(tǒng)以及帶光學(xué)變焦的高分辨率相機(jī)等功能，程序設(shè)置簡便快速。P-170具備用于量化表面形貌的各種濾鏡、調(diào)平和分析算法，可以支持2D或3D測量。并通過圖案識別、排序和特征檢測實現(xiàn)全自動測量。

主要功能

•       臺階高度：幾納米至1000μm

•       微力恒力控制：0.03至50mg

•       樣品全直徑掃描，無需圖像拼接

•       視頻：500萬像素高分辨率彩色攝像機(jī)

•       圓弧校正：消除由于探針的弧形運動引起的誤差

•       軟件：簡單易用的軟件界面

•       生產(chǎn)能力：通過測序、圖案識別和SECS/GEM實現(xiàn)全自動化

•       晶圓機(jī)械傳送臂：自動加載75mm至200mm不透明（例如硅）和透明（例如藍(lán)寶石）樣品

主要應(yīng)用

•       臺階高度：2D和3D臺階高度

•       紋理：2D和3D粗糙度和波紋度

•       形狀：2D和3D翹曲和形狀

•       應(yīng)力：2D和3D薄膜應(yīng)力

•       缺陷復(fù)檢：2D和3D缺陷表面形貌

工業(yè)應(yīng)用

•       半導(dǎo)體

•       化合物半導(dǎo)體

•       LED：發(fā)光二極管

•       MEMS：微機(jī)電系統(tǒng)

•       數(shù)據(jù)存儲

•       汽車

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