相差校正環(huán)面光柵，CCD直接探測，光譜數(shù)據(jù)快速收集...

適用于軟X射線和極紫外（EUV）的環(huán)形光柵平場光譜儀

相差校正環(huán)面光柵

CCD直接探測

光譜數(shù)據(jù)快速收集

平面探測器（MCP、CCD）連接簡便

真空度可達10e-9 torr

任何角度操作

多種探測器可選

描述

Mcpherson公司生產(chǎn)多種工作在極紫外和軟X射線波段的光譜儀。對于某些特殊的應用，此種光譜儀應用于特殊波長光譜的分析。對于開發(fā)激光激發(fā)的13.5nm的氙燈等離子極紫外光源和診斷托卡馬克裝置的短壽命的等離子體等實驗，平場相差校正光譜儀是，并且具有明顯的優(yōu)勢。

    平場環(huán)面光譜儀主要工作在固定的波段，光學上環(huán)面和相面校正的設計方法，決定了光譜儀只能工作于固定的光譜波段。由于緊密型的設計及工藝復雜等特點，光柵的選擇也是非常有限的。相對簡單的光學系統(tǒng)，即可獲得成像效果，又可得到良好的光譜分辨率。此類光譜儀既可利用CCD相機直接探測高能量光譜，也可使用MCP微通道板像增強器作為時間分辨的光譜分析。

光譜儀使用靈活性大，比如天體物理儀器標定就選用羅蘭圓掠入射光譜儀Model 248/310G。對于此類光譜波段，使用范圍非常廣，可以選用不同的光柵，以獲得非常好的光譜分辨率。