石墨烯和2D材料表征

Onyx是市場上設計用于提供石墨烯、薄膜和其他2D材料的全區(qū)域非破壞性表征的系統(tǒng)。

Onyx彌補宏觀工具和納米工具之間的空白，可以檢測從0.5 mm²到大面積（m²）的特征，從而增強研究材料的工業(yè)化水平。與其他大面積測試方法（例如四探針方法）相比，Onyx能夠測量樣品質量的空間分布。與顯微方法（例如拉曼，SEM和TEM）不同，可以數(shù)百微米的空間分辨率快速表征大面積的樣品。

移動性和載流子密度

Onyx不斷改進其功能，以提供新結果，從而極大地提高其潛力。Onyx將移動性和載流子密度分析合并到其先前的功能中。僅在一次測量中，該系統(tǒng)即可精確提供物理屬性。