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LiteScope 原位AFM in SEM

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 上海納騰儀器有限公司
  • 品牌
  • 型號 LiteScope
  • 所在地
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時(shí)間 2020/11/4 19:22:51
  • 訪問次數(shù) 120

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LiteScope是一種*的掃描探針顯微鏡(SPM),便于集成到各種掃描電子顯微鏡(SEM)中?;パa(bǔ)SPMSEM技術(shù)的結(jié)合(CPEM)可以進(jìn)行復(fù)雜的樣品分析,包括表面形貌、機(jī)械性能、電性能、化學(xué)成分、磁性等的表征。還能與其他掃描電鏡附件相結(jié)合,如聚焦離子束(FIB)或氣體注入系統(tǒng)(GIS )用于納米/微結(jié)構(gòu)的制備和表面改性可以對裝配結(jié)構(gòu)的快速和簡單的3D檢查。 同時(shí),SPMSEM測量能夠在同一地點(diǎn)、同一時(shí)間、同一協(xié)調(diào)系統(tǒng)進(jìn)行。


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