儀器簡介：

TE空洞共振腔于測量厚度小于0.3mm一下的薄膜，支持5G（第五代移動通信系統(tǒng)），可達40GHz的頻率。

有固定的間隙用于插入待測樣品，并且在測量穩(wěn)定性方面優(yōu)于將樣品夾在諧振器中的方法。

可以測量各種材料（例如軟樣品和脆性樣品）的介電常數(shù)。

 技術(shù)參數(shù)：

可測試頻率范圍： 10G-40GHz

介電常數(shù)Epsilon：1-5，   準確度： ±1%，

介電損耗tangent delta：0.01-0.0001，  準確度：±5%

樣品形狀：片狀（厚度0.3mm以下，40mm正方形以上）

符合標準JIS R1641 IPC-TM650 2.5.5.13

擁有多種腔體，每個腔可測一個頻點:

 主要特點：

TE空洞共振腔（Cavity Resonator ），專門用于測量厚度小于0.3mm一下的薄膜。

 應(yīng)用領(lǐng)域： 

主要應(yīng)用于5G材料，例如薄膜等。

高速數(shù)字/微波電路用基底材料 ；濾波器和介電天線用低損耗電介質(zhì) ；化學制品； 

薄膜與新材料；半導(dǎo)體材料；電子材料（包括CCL和PCB）

  相關(guān)資料

 ·日本AET高頻（微波）介電常數(shù)分析儀