應(yīng)用光譜TranSpec Mirco白光干涉膜厚儀

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公司名稱 上海桑結(jié)實(shí)業(yè)有限公司
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廠商性質(zhì) 其他
更新時間 2020/9/28 18:48:50
訪問次數(shù) 814

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2020年01月08日至 2020年02月08日

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模內(nèi)澆口分離自動化，降低對人的依賴度；傳統(tǒng)的塑膠模具開模后產(chǎn)品與澆口相連，需二道工序進(jìn)行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開模前，消除后續(xù)工序，有利于生產(chǎn)自動化，降低對人的依賴。

TranSpec Micro薄膜厚度測量新的光纖耦合TranSpec Micro薄膜厚度顯微鏡可以將薄膜厚度測量點(diǎn)的大小降到50-100um。測量點(diǎn)的圖像可通過裝在顯微鏡上的特殊彩色相機(jī)實(shí)時查看。TranSpec Micro薄膜厚度測量儀和我們TranSpec和TranSpec Lite儀器一樣采用白光干涉原理。為了測量非常小的點(diǎn)，TranSpec Micro使用裝有實(shí)時顯示相機(jī)的光纖耦合顯微鏡。

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TranSpec Micro薄膜厚度測量儀產(chǎn)品描述

TranSpec Micro新的光纖耦合TranSpec Micro薄膜厚度顯微鏡可以將薄膜厚度測量點(diǎn)的大小降到50-100um。測量點(diǎn)的圖像可通過裝在顯微鏡上的特殊彩色相機(jī)實(shí)時查看。TranSpec Micro薄膜厚度測量儀和我們TranSpec和TranSpec Lite儀器一樣采用白光干涉原理。為了測量非常小的點(diǎn)，TranSpec Micro使用裝有實(shí)時顯示相機(jī)的光纖耦合顯微鏡。光纖耦合纖維鏡可以將薄膜厚度測量點(diǎn)的大小降到50-100um（根據(jù)放大倍數(shù)的不同），測量點(diǎn)的圖像可通過裝在顯微鏡上的特殊彩色相機(jī)實(shí)時查看。

TranSpec Micro薄膜厚度測量儀應(yīng)用領(lǐng)域

主要用于

半導(dǎo)體、主要的汽車燈以及CD生產(chǎn)商進(jìn)行有機(jī)膜厚測試