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白光干涉儀

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 克拉克中國
  • 品牌
  • 型號
  • 所在地 深圳市
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時間 2015/12/3 18:00:00
  • 訪問次數(shù) 639

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激光測振儀(進口)位移分辨率高達0.008納米。測量物體振動的速度,加速度,位移,運動軌跡,頻率.全場激光測振實現(xiàn)整面物體的XY軸的振動測量可以彩色動畫輸出。三維激光測振可以實現(xiàn)三軸振動測量。多點激光測振可以同時實現(xiàn)16個振動點振動并可以測量物體瞬間振動和實時的振動模擬

詳細信息 在線詢價

白光干涉儀:非接觸式三維表面形狀測量儀可以沿垂直軸方向?qū)Ρ粶y物體進行掃描,它采用光學(xué)干涉技術(shù),精密測量樣品的表面形狀分布。
與共聚焦顯微鏡、調(diào)焦顯微鏡等三維表面測量技術(shù)相比,該表面形狀測量儀具有更高的垂直分辨率。

Sunny VSI三維表面形狀測量儀可安裝在配套的三維數(shù)控平臺上,實現(xiàn)橫向掃描。

系統(tǒng)構(gòu)成
1)光學(xué)照明系統(tǒng)
2)光學(xué)成像系統(tǒng)
3)垂直掃描控制系統(tǒng):
4)信號處理系統(tǒng):
5)應(yīng)用軟件:
6)顯示器

應(yīng)用領(lǐng)域
LED晶片基板測量
表面粗糙度/平整度分析
硬盤懸臂焊接點的直徑測量
太陽能電池紋理缺陷檢測

參數(shù) 白光干涉儀型 號 Sunny VSI
垂直測量分辨率 0.05um
橫向測量分辨率 2.767um/plxels
圖像分辨率 768*576 plxels
掃描體積 2.125mm*1.593mm*100um
均方根值重復(fù)精度 <0.5nm

 

白光干涉儀型 號 Sunny VSI
垂直測量分辨率 0.05um
橫向測量分辨率 2.767um/plxels
圖像分辨率 768*576 plxels
掃描體積 2.125mm*1.593mm*100um
均方根值重復(fù)精度 <0.5nm


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