在諸如鋼鐵夾雜物比例測定、粒子分析、相位或顆粒分析等應用中，可復制性至關(guān)重要。正置材料顯微鏡 Leica DM4 M 和Leica DM6 M 顯微鏡系統(tǒng)值得您的信賴，獲得可復制的結(jié)果。始終如一！

• 節(jié)省寶貴時間：憑借照明管理器 (Illumination Manager) 和相襯管理器 (Contrast Manager)，顯微鏡能夠自動識別所選的相襯方法和正在使用的物鏡，準確打開和關(guān)閉孔徑光闌和視場光闌，且調(diào)整光線強度。

• 共享和比較您的結(jié)果 — 隨時隨地！通過 Leica 顯微鏡副助手 (Leica Microscope Assistant，LeicaLAS“保存和調(diào)用”模塊) 保存和調(diào)用顯微鏡設(shè)置和攝像頭參數(shù)。它們隨圖像一同保存和歸檔，并可隨時恢復。

選擇滿足您需求的個性化圖像分析系統(tǒng)：

Leica Application Suite (LAS) 軟件平臺將顯微鏡、軟件和攝像頭集成在一個軟件包中，全面兼顧界面、功能和工作流程各個方面的效率。

通過 Leica DM6 M，您可使用附加的模塊，例如鋼鐵專家 (Steel Expert)、清潔度專家 (Cleanliness Expert)、晶粒專家 (Grain Expert) 和相位專家 (Phase Expert)。

通過 Leica DM6 M 上的 Leica SmartTouch 觸控屏或者 Leica DM6 M 和 Leica Smart Move 遙控上的可自由編程的各功能按鈕，加速您的工作流程。

正置材料顯微鏡 Leica DM4 M 可讓您工作方便快捷：布局清晰的顯示屏令所有顯微鏡設(shè)置一覽無遺。六個功能鍵幫助輕松操作各種常用功能 — 無需從樣品查找。

LED 照明有助于結(jié)果的可復制 — 無論您以明場 (BF)、高動態(tài)暗場 (HDF)、微分干涉相襯 (DIC)、熒光 (FL) 還是偏振 (POL) 狀態(tài)工作。

憑借全自動微分干涉相襯 (DIC) 和 1.25 倍全景物鏡，即使最微小的細節(jié)也能檢測到：

• 無需費力，輕松達成您的目標：只需按下一個按鈕，Leica DM6 M 的所有系統(tǒng)組件 (例如檢偏器、起偏鏡和適當?shù)睦忡R) 便會自動移至光路徑，同時每一個物鏡的微調(diào)都得以保存。

• 1.25 倍全景物鏡，呈現(xiàn)樣品的概覽。憑借 Leica DM4 M，以出色的景深精準觀察每一個細節(jié)。

無論您需要的是快速概覽樣品還是詳細檢查樣品的顯微鏡 ——

Leica DM4 M 和 Leica DM6 M 立式顯微鏡總能以恰當?shù)脑O(shè)置滿足您的需求。