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CMI900電鍍層測厚儀|CMI900鍍金測厚儀|CMI900鍍鎳測厚儀

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產品名稱:CMI900電鍍層測厚儀|CMI900鍍金測厚儀|CMI900鍍鎳測厚儀產品型號:CMI900產品類別:厚度檢測類試驗設備產品簡介:CMI900熒光鍍層測厚儀特點:1、精度高、穩(wěn)定性好2、強大的數據統(tǒng)計、處理功能3、測量范圍寬4、NIST認證的標準片5、服務及支持

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產品名稱:CMI900電鍍層測厚儀|CMI900鍍金測厚儀|CMI900鍍鎳測厚儀

產品型號:CMI900

產品類別:厚度檢測類試驗設備

鍍鎳測厚儀

產品簡介:CMI900熒光鍍層測厚儀特點: 1、精度高、穩(wěn)定性好 2、強大的數據統(tǒng)計、處理功能 3、測量范圍寬 4、NIST認證的標準片 5、服務及支持。

CMI900電鍍層測厚儀技術規(guī)格:

X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學系統(tǒng)
空冷式微聚焦型X射線管,Be窗
標準靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等
功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-標準
     75W(4-50kV,0-1.5mA)-任選
裝備有安全防射線光閘
二次X射線濾光片:3個位置程控交換,多種材質、多種厚度的二次濾光片任選
準直器程控交換系統(tǒng) 最多可同時裝配6種規(guī)格的準直器
多種規(guī)格尺寸準直器任選:
-圓形,如4、6、8、12、20 mil等
-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
 
測量斑點尺寸 在12.7mm聚焦距離時,最小測量斑點尺寸為:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器)
在12.7mm聚焦距離時,測量斑點尺寸為:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器)
樣品室結構 開槽式樣品室
樣品臺尺寸 610mm x 610mm
XY軸程控移動范圍 標準:152.4 x 177.8mm
還有5種規(guī)格任選
Z軸程控移動高度 43.18mm
XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制
樣品觀察系統(tǒng) 高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng),標準放大倍數為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。
激光自動對焦功能
可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
計算機系統(tǒng)配置 IBM計算機
惠普或愛普生彩色噴墨打印機
分析應用軟件 操作系統(tǒng):Windows2000中文平臺
分析軟件包:SmartLink FP軟件包
測厚范圍 可測定厚度范圍:取決于您的具體應用。
 
 
 
 
基本分析
 
 
采用基本參數法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。
樣品種類:鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)
可檢測元素范圍:Ti22 – U92
可同時測定5層/15種元素/共存元素校正
貴金屬檢測,如Au karat評價
材料和合金元素分析,
材料鑒別和分類檢測
液體樣品分析,如鍍液中的金屬元素含量
多達4個樣品的光譜同時顯示和比較
元素光譜定性分析
調整和校正 系統(tǒng)自動調整和校正功能,自動消除系統(tǒng)漂移
測量自動化 鼠標激活測量模式:“Point and Shoot”
多點自動測量模式:隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復測量模式
測量位置預覽功能
激光對焦和自動對焦功能
樣品臺程控 設定測量點
連續(xù)多點測量
測量位置預覽(圖表顯示)
 
 
統(tǒng)計計算
平均值、標準偏差、相對標準偏差、值、最小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖
數據分組、X-bar/R圖表、直方圖
數據庫存儲功能
任選軟件:統(tǒng)計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書
 
系統(tǒng)安全監(jiān)測
Z軸保護傳感器
樣品室門開閉傳感器
操作系統(tǒng)多級密碼操作系統(tǒng):操作員、分析員、工程師


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