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鎢燈絲掃描電子顯微鏡EVO 18

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具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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EVO18是一臺高性能、功能強大的高分辨應(yīng)用型掃描電子顯微鏡。系統(tǒng)采用多接口的大樣品室和藝術(shù)級的物鏡設(shè)計,提供高真空成像功能,可對各種材料表面作分析。并且具有業(yè)界的X射線分析條件,樣品臺為五軸全自動控制。標(biāo)準(zhǔn)的高效率無油渦輪分子泵滿足快速的樣品更換成像分析。

詳細(xì)信息 在線詢價

技術(shù)參數(shù)

分辨率:  3.0nm@ 30KV(SE and W)   4.0nm@ 30KV(VP with BSD)
加速電壓 0.2—30KV 
放大倍數(shù) 5—1000000x
探針電流 0.5PA-5μA
X-射線分析工作距離 8.5mm    35度接收角 
低真空壓力范圍 10—400Pa (選配10-750Pa、LS10:環(huán)掃模式10-3000pa)
工作室 365mm(φ)×275mm(h)
5軸優(yōu)中心自動樣品臺 X=125mm  Y=125mm  Z=50mm  T=-10°- 90°R=360°(連續(xù))
較大試樣高度 145mm
大試樣直徑 250mm 
系統(tǒng)控制 基于Windows 7 的SmartSEM操作系統(tǒng)
存儲分辨率 32,000 x 24,000 pixels

 

產(chǎn)品應(yīng)用

掃描電鏡(SEM)廣泛地應(yīng)用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等檢驗和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進(jìn)行材料的微觀形貌、組織、成分分析,各種材料的形貌組織觀察,材料斷口分析和失效分析,材料實時微區(qū)成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面掃描和線掃描分布測量,晶體、晶粒的相鑒定,晶粒尺寸、形狀分析,晶體、晶粒取向測量。


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