儀器簡介：

   該儀器是利用多光束干涉原理設(shè)計(jì)的一種干涉儀。它的特點(diǎn)是能夠獲得十分細(xì)銳的干涉條紋，因此一直是長度計(jì)算和研究的光譜超精細(xì)結(jié)構(gòu)的有效工具，多光束干涉原理還在激光器和光學(xué)薄膜理論中有著重要的應(yīng)用，是制作光學(xué)儀器中干涉濾光片和激光共振腔的基本構(gòu)型。觀察多光束干涉條紋；測定鈉黃雙線的波長差；其他實(shí)驗(yàn)（配合適當(dāng)器件，觀察汞同位素的光譜線移位現(xiàn)象及光譜線在磁場中分裂的塞曼效應(yīng)等）。

實(shí)驗(yàn)內(nèi)容：

1、測定鈉黃雙線的波長差

2、了解觀察多光束干涉的條紋特征

3、學(xué)會使用用法布里—珀涉儀的調(diào)整

4、學(xué)會用法布里—珀涉儀測量光波微小波長差和觀測光譜線的精細(xì)結(jié)構(gòu)

主要配置和參數(shù)：

1、反射鏡：Φ300mm,平面度 1/20λ；移動鏡預(yù)置螺旋：最小分度值0.01mm，行程10mm(5-15mm) 測量精度：最小讀數(shù)值0.0005mm,行程1.25mm

2、f'=45mm,附帶鏡框

3、55*55mm，毛玻璃屏

4、通用底座、透鏡架、小型顯微鏡及鏡架

5、低壓鈉燈20W