儀器簡介：

   本實驗裝置通過測量半導體激光器的功率，電壓和電流，讓學生了解半導體激光器在連續(xù)輸出下的工作特性。用光學多道分析器觀測，半導體激光器注入電流小于閾值時發(fā)射的熒光，和大于閾值電流時產生激光振蕩的譜線變化

實驗內容：

1、發(fā)散角測量

2、偏振度測量

3、光譜特性測量

4、光斑尺寸測量

5、半導體激光器的輸出特性及溫度特性實驗

主要配置和參數(shù)：

1、光學多道分析器：波長范圍：300-900nm,波長精度：±0.4nm,波長重復性：≤0.2nm,        分辨率：優(yōu)于0.2nm,相對孔徑：D/F=1/7

2、電流可調半導體激光器電源：輸出電流0-40mA連續(xù)可調

3、650nm半導體激光器：中心波長：650nm,輸出功率5mW

4、夾持具：圓形激光器夾具，方形激光器夾具

5、偏振旋轉架：0-360°，最小刻度1°

6、旋轉臺：0-360°，最小刻度1°

7、光功率測試儀：2μW、20μW、200μW、2mW、20mW、200mW六檔功率范圍3位半數(shù)字顯示器

8、偏振片：通光孔徑Φ16mm,波長范圍：400-700nm,偏光度：99.98%；透光率：30%（平行）；0.0045%（正交）

9、其他：四維調節(jié)架，二維調節(jié)架，接收器調整架，旋轉臺座