微小區(qū)域薄膜厚度測量儀-MPROBE40MSPMProbe40測量薄膜厚度和折射率單擊鼠標在小地方

微小區(qū)域薄膜厚度測量儀-MPROBE 40 MSP

MProbe 40 測量薄膜厚度和折射率單擊鼠標在小地方。顯微分光光度計 (MSP) 集成在系統(tǒng)中同時結(jié)合顯微鏡，用于小點薄膜厚度測量。微小區(qū)域薄膜厚度測量儀-MPROBE 40 MSP用于數(shù)千種應用程序，并提供完整的標準模型系列來支持它們。微小區(qū)域薄膜厚度測量儀-MPROBE 40 MSP可以快速可靠地測量 1 納米到 2 毫米的厚度，包括多層薄膜堆疊。不同的模型主要由的波長范圍和分辨率來區(qū)分，這反過來又決定了可以測量的厚度范圍。

微小區(qū)域薄膜厚度測量儀-MPROBE 40 MSP的應用：

1. 測量圓柱或曲面上薄膜厚度：注射器、支架、銷釘、電線等。即使在高度彎曲的表面上，小點也會產(chǎn)生平坦的場以實現(xiàn)精確測量。

2. 不均勻、粗糙的涂層或光散射材料，如高霧度或納米粒子注入薄膜。小光斑定位測量有效地減少光散射和不均勻性的影響

3.圖案晶圓、MEMS 和其他需要高靈敏度領域的小區(qū)域測量的應用。

微小區(qū)域薄膜厚度測量儀-MPROBE 40 MSP基本規(guī)格：

微小區(qū)域薄膜厚度測量儀-MPROBE 40 MSP選型列表：

*可根據(jù)要求設計定制探頭

關于昊量光電：

昊量光電，您的光電超市！

上海昊量光電設備有限公司專注于光電領域的技術(shù)服務和產(chǎn)品銷售。致力于引進國外優(yōu)質(zhì)的光電器件制造商的技術(shù)與產(chǎn)品，為國內(nèi)客戶提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品與服務。我們力爭在原產(chǎn)廠商與客戶之間搭建起溝通的橋梁與合作的平臺。

您可以通過我們昊量光電的網(wǎng)站了解更多的產(chǎn)品信息，或直接。